Os fenômenos adversos e os métodos de manuseio do Antminer S19 Pro durante a operação.

Os fenômenos adversos e os métodos de manuseio do Antminer S19 Pro durante a operação.

Olá pessoal!  Sou engenheiro Wang de Rongminer.  Primeiro, deixe -me apresentar a arquitetura geral do Antminer S19 Pro.  O S19 Pro é composto principalmente por 3 placas de computação, 1 placa de controle, fonte de alimentação APW12 e 4 ventiladores de resfriamento, como mostrado na figura a seguir:

Em seguida, vamos dar uma olhada na estrutura de trabalho da placa de computação interna do S19 Pro

1. O Conselho de Computação Pro Antminer S19 consiste em 114 chips, divididos em 38 grupos (domínios), cada um composto por 3 ICS;  A tensão operacional do chip S19 Pro é de 0,32V;  Os grupos 38, 37, 36, 35, 34, 33 e 32º (um total de 7 grupos) são alimentados por saída de 20V do circuito de impulso Q9 para produzir 1,8V para o LDO e o 31º a 1º são alimentados por VDD 12,6V a LDO para fornecer 1.8.  A tensão diminui em 0,32V para cada domínio para trás.

2. Todas as 0,8V são fornecidas pela saída local de 1.8V por meio do LDO, como mostrado na figura a seguir:

De fato, após o teste, o Antminer S19 Pro tem um desempenho muito bom em termos de índice de consumo de energia, estabilidade e outras condições operacionais nas condições ambientais oficialmente recomendadas.  Se o mau funcionamento da placa de computação, os fenômenos mais comuns incluem relatórios 0, números de relatórios e baixo poder de computação.  Nessas situações, podemos lidar com elas dessa maneira - -

(1). Quando a exibição do LCD do equipamento de teste mostra "ASIC NG: (0)", primeiro meça a tensão total do domínio e o circuito de aumento de 20V e depois use uma sonda de curto-circuito para curto-circuito, o ponto de teste RO e o ponto de teste 1V8 entre o primeiro e o segundo chips e depois execute o programa de busca de chips.  Olhando para o registro de porta serial, se 0 chips ainda forem encontrados neste momento, será uma das seguintes situações:

um. Use um multímetro para medir se a tensão nos pontos de teste 1V8 e 0V8 é de 1,8V e 0,8V.  Caso contrário, pode ser uma anormalidade nos circuitos LDO de 1,8V e 0,8V desse domínio, ou os dois chips ASIC nesse domínio não são soldados corretamente.  A maioria deles é causada por curtos circuitos nos capacitores de filtro de 0,8V e 1,8V (meça os valores de resistência dos capacitores de filtro de patch na frente e traseira do PCBA);

b. Verifique se os circuitos de U2 e U3 e U4 são anormais, como soldagem virtual de resistência, etc;

c. Meça a resistência de R232 ou R233 com um multímetro para ver se está a 1 ohm e a leitura não pula.  Caso contrário, substitua esses dois resistores;

D. Verifique se houver pinos no primeiro chip que não foram soldados corretamente (foi descoberto durante a manutenção que há estanho nos pinos quando visto do lado, mas quando o chip foi removido, verificou -se que os pinos não eram soldados.

(2). Se um chip puder ser encontrado na etapa 1, significa que o primeiro chip e o circuito anterior são bons.  Use um método semelhante para solucionar problemas dos chips subsequentes.  Por exemplo, curto -circuito no ponto de teste 1v8 e no ponto de teste RO entre os 38º e 39º chips.  Se o log puder encontrar os 38 chips, não há problema com os primeiros 38 chips;  Se 0 chips ainda forem encontrados, verifique se o 1V8 é normal.  Se for normal, os chips após 38 têm problemas.  Continue a usar a pesquisa binária até que o chip problemático seja encontrado.  Supondo que haja um problema com o enésimo chip, quando o 1V8 e o RO entre os chips N-1 e Nth são curtos, os chips N-1 podem ser encontrados.  No entanto, quando o 1V8 e o RO entre os nó e os chips N+1 são curtos, o chip inteiro não pode ser encontrado.

(3). Quando o lcd de fixação do teste exibe "ASIC 113: (Relatório 113)", indica que a placa de operação pode detectar 114 chips a uma taxa de transmissão de 115200, mas apenas 113 chips foram encontrados a uma taxa de transferência de 12m e um chip não foi encontrado a uma taxa de batida de 12m.  Método de reparo: Usando o método binário, curto-circuito O ponto de teste 1V8 e o ponto de teste RO entre os 38º e 39º chips através de uma sonda de curto-circuito.  Se o log puder encontrar os 38 chips, os 38 primeiros chips estarão bem;  Se houver 47 circuitos curtos e o registro relatórios 46, isso significa que o 47º chip não pode ser detectado e não há problema com a inspeção da aparência.  Geralmente, substituir o 47º chip é suficiente.

(4). Ao testar a tela LCD do acessório "ASIC NG: (x, relatórios fixos de um certo chip)", existem duas situações:

um. O primeiro cenário;  O tempo de teste é basicamente o mesmo que o de uma placa OK (geralmente o valor de x não muda cada vez que for testado) (o tempo de teste refere -se ao tempo de pressionar o botão de teste inicial no LCD exibindo o resultado "ASIC NG: (x)").  Provavelmente, essa situação é causada pela solda anormal dos resistores da frente e traseira do CLK, CI e BO do XTH Chip, por isso é importante se concentrar nesses 6 resistores.  A baixa probabilidade se deve à solda anormal dos pinos a seguir nos chips X-1, X e X+1:

(b). O segundo cenário;  O tempo de teste é quase o dobro que o da placa OK (às vezes o valor X pode mudar durante cada teste e às vezes x = 0);  No momento, o log geralmente contém as seguintes informações (o número vermelho pode não ser necessariamente 13, dependendo de qual soquete o chicote da fiação está conectado);  Durante o teste, supõe -se que as tensões de domínio de quase todos os domínios na frente da posição anormal sejam menores que 0,3V, e as tensões de domínio do domínio traseiro são quase todas superiores a 0,34V.  Essa situação é causada por o chip não ser soldado corretamente, geralmente 1,8V, 0,8V, RXT, CLK não são soldados corretamente.  Sugira medir diretamente a tensão do domínio para localizar onde o problema está ocorrendo.  Os métodos de curto-circuito 1V8 e RO usados ​​na etapa 1 também podem localizar a localização da anomalia.

(c). Atualmente, a maior parte da experiência de manutenção encontrou micro circuitos curtos (0 ohms de 0 ohms) entre sinais, causados ​​pela baixa resistência dos pinos de chip.  Você pode primeiro usar uma pistola de ar quente para soldar e ver se está ok.

(5). Se a potência de computação de uma única placa estiver baixa, aqui está um método conveniente e rápido para localizá -lo e repará -lo - ou seja, faça login no IP através do software Putty para observar se a tensão de trabalho do domínio e o retorno do NOBS desta placa são normais e repare -o de acordo com as informações de log da Putty.

A operação específica é a seguinte:

(1). Abra o endereço IP da máquina com problemas de entrada e clique em abrir

(2). Ao inserir o comando de nome de usuário, senha e teste, você pode ver o status do domínio de retorno e tensão nonce.  Se houver condições anormais na tensão de nonce e domínio, você poderá medir e reparar com base no chip anormal impresso.

Por fim, gostaria de compartilhar com você um processo de reparo, na esperança de fornecer ajuda para o pensamento de todos ao reparar máquinas de mineração:

O acima exposto é o método de análise e processamento de qualidade do meu engenheiro para a máquina S19.  Se você tiver alguma dúvida, você pode nos consultar

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